引言

考慮以下場景：您正在設計寬帶C類功率放大器并將其投入生產(chǎn)。在你的設計階段，你要遵循所有的科學規(guī)則，還要深入研究你的電子技巧，以滿足設計規(guī)范。你的設計在實驗室里制造并測試成功。實驗室里又建造了25個單元，它們的測試結(jié)果也很好。

確信設計和生產(chǎn)程序都令人滿意，您就可以開始批量生產(chǎn)了。但當?shù)谝慌鷨卧_到RFtest時，就不符合規(guī)范。當你取回這些單元時，它們在實驗室測試正常。這些放大器出了什么問題？可能什么都沒有。這種情況，以一種或另一種形式，在非線性RF電路的設計和制造中非常常見。罪魁禍首是測試系統(tǒng)的相關(guān)性。0.5 dB的差值足以使非常好的單元失效，導致不必要且昂貴的重新測試甚至返工。更糟糕的是，一個半dB的錯誤將通過不符合規(guī)格且永遠不應該發(fā)貨的單元。

這種相關(guān)性誤差將破壞更重要的功能，即保持產(chǎn)品連續(xù)性。1982年制造的設備應與1976年制造的相同型號設備性能相同。另一種說法是，在1982年的測試系統(tǒng)中測試的設備在1976年的系統(tǒng)中測試時應該產(chǎn)生相同的結(jié)果。當然，關(guān)鍵是射頻相關(guān)性。

什么是射頻相關(guān)性？簡單地說，當在兩個或多個測試站之間建立并連續(xù)遵守目標誤差極限時，就會發(fā)生RF相關(guān)性。這種相關(guān)性對于非線性RF和微波功率放大器的成本效應生產(chǎn)至關(guān)重要，無論是在測試系統(tǒng)還是設備環(huán)境中，這些放大器的電路對其負載的阻抗都非常敏感。補償衰減器中的插入損耗誤差很容易，但補償衰減器焊盤之間的輸入阻抗差（即負載VSWR）的變化要困難得多。
讓我們從經(jīng)驗和理論兩個層面來研究射頻相關(guān)性。