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掃碼加入半導體行業(yè)裝配線上的EOS最佳實踐
EOS備注：
? 一般EOS定義：“由應用于半導體元件的電氣條件超過限值而導致的損壞”。
? 破壞性水平取決于在一定時間內(nèi)施加的能量量。
? EOS的損壞本身不是根本原因！
? EOS的損壞可能是連續(xù)故障機制的結(jié)果。
? 極端的損壞可能掩蓋了根本原因的證據(jù)。
? 任何設(shè)備在某個時候都可能受到損壞。
? 不可行的是能夠承受所有EOS威脅的設(shè)備（由于成本和物理限制/最大額定值）。
? 要確定根本原因，需要盡可能了解設(shè)備失敗的條件。
| 器件型號 | 數(shù)量 | 器件廠商 | 器件描述 | 數(shù)據(jù)手冊 | ECAD模型 | 風險等級 | 參考價格 | 更多信息 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 0955012881 | 1 | Molex | Telecom and Datacom Connector, 8 Contact(s), Right Angle, Solder Terminal, Locking, Jack, |
|
|
$1.2 | 查看 | |
| 12129497 | 1 | Delphi Automotive LLP | Wire Terminal, 3mm2 |
|
|
$0.42 | 查看 | |
| VLS6045EX-4R7M | 1 | TDK Corporation | General Purpose Inductor, 4.7uH, 20%, 1 Element, Ferrite-Core, SMD, 2424, CHIP, 2424 |
|
|
$0.47 | 查看 |
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